西电新闻网讯（通讯员 曹静）应我校副校长郝跃教授邀请，美国范德堡大学Ron Schrimpf教授和Dan Fleetwood教授6月21至23日来我校讲学访问。

Ron Schrimpf教授正在作报告



Dan Fleetwood教授作报告



来访期间，Ron Schrimpf教授和Dan Fleetwood教授与副校长郝跃及我校相关部门负责人合影

　　21日，Ron Schrimpf教授为微电子学院全体师生作了题为“Single-Event Challenges in Advanced Technologies”的学术报告，重点讲述了由单粒子效应带来的软错误以及业界的研究方案和解决方案。Dan Fleetwood教授作了题为“Total Dose and Single Event Effects in Highly Scaled CMOS Microelectronics”的学术报告，从业界的角度重点讲述了现代工艺和设计中的辐照效应，给出了抗辐照领域的最新研究成果。报告内容丰富、精彩，受到了师生们的一致好评。Ron Schrimpf 教授和Dan Fleetwood教授还耐心回答了与会师生们的许多问题。

　　22日， Ron Schrimpf和Dan Fleetwood教授还与郝跃课题组的相关人员进行了会谈，双方就进一步加强科研合作交换了意见，并达成了合作共识，为今后双方开展更多的科研合作与人员交流奠定了基础。（完）